當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 膜厚儀 >
產(chǎn)品分類
Product Category顯示器薄膜測(cè)量?jī)x*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此,在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備,專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測(cè)量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)。
FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備,專門用于快速、準(zhǔn)確和無損測(cè)量半導(dǎo)體材料的厚/超厚層及透明層。
顯示器薄膜測(cè)量?jī)x*的光學(xué)模塊可容納所有光學(xué)部件:分光計(jì)、復(fù)合光源(壽命10000小時(shí))、高精度反射探頭。因此,在準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。
硅片厚度測(cè)量?jī)x采用的是近紅外光(NIR)來測(cè)量膜層厚度,因此可以測(cè)試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導(dǎo)體膜層) 。